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    LANGER EMV-Technik XF1近場(chǎng)探頭組 信號分析儀

    LANGER EMV-Technik XF1近場(chǎng)探頭組 信號分析儀

    更新時(shí)間:2024-03-28

    產(chǎn)品型號:

    產(chǎn)品報價(jià):

    產(chǎn)品特點(diǎn):LANGER EMV-Technik XF1近場(chǎng)探頭組專(zhuān)門(mén)為近場(chǎng)測試設計的探頭,電磁兼容工程師*的基本工具,用于在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)期間探測PCB的電磁場(chǎng)情況

    LANGER EMV-Technik XF1近場(chǎng)探頭組 信號分析儀的詳細資料:

    LANGER EMV-Technik XF1近場(chǎng)探頭組包含4個(gè)無(wú)源磁場(chǎng)探頭和1無(wú)源電場(chǎng)探頭,所有探頭的頻率范圍為30MHz到6GHz,用于在研發(fā)階段測量磁場(chǎng)和電場(chǎng)。由于在探頭內部配置了阻抗匹配器,該探頭組與其他探頭(如RF型探頭)相比,在低頻區較不敏感。 使用XF 1系列的探頭,可以逐步辨識電子模塊中的干擾磁場(chǎng)源。例如,首先用XF-R 400-1型探頭檢測電子模塊總體發(fā)射出的干擾場(chǎng),然后再用高分辨率探頭更準確地識別干擾源。電場(chǎng)探頭用于檢測電子模塊表面的干擾電場(chǎng)。 通過(guò)相應地操作近場(chǎng)探頭,能夠測量出電磁場(chǎng)的方向及其分布。這種近場(chǎng)探頭小巧輕便,并采用外皮電流衰減。磁場(chǎng)探頭采用電屏蔽設計。這種近場(chǎng)探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場(chǎng)探頭的內部安裝有終端電阻

    LANGER EMV-Technik XF1近場(chǎng)探頭組產(chǎn)品內容:

    1xXF-B 3-1, 磁場(chǎng)探頭(30MHz-6Hz)

    1xXF-E 10, 電場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz)

    1xXF-R 3-1, 磁場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz)

    1xXF-R 400-1, 磁場(chǎng)探頭(30MHz-6Hz)

    1xXF-U 2.5-1, 磁場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz)

    1xSMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測量電纜

    1xCase 5


    LANGER EMV-Technik XF1近場(chǎng)探頭組產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    XF-B 3-1磁場(chǎng)探頭(30MHz-6Hz)

    XF-B 3-1型磁場(chǎng)探頭的測量線(xiàn)圈相對垂直于探頭柄。當探頭豎直放置到電路板上時(shí),其測量線(xiàn)圈直接平放在電路板的表面上。由此就能夠測量到印刷電路板表面上很難達到的一些位置,如開(kāi)關(guān)調節器的大元件之間的位置。

    XF-E 10電場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz)

    XF-E 10型電場(chǎng)探頭底面的電極僅有約0.2mm寬,用于定位小的電場(chǎng),例如0.1mm寬的導線(xiàn)、高針數集成電路的單個(gè)引腳等發(fā)射的電場(chǎng)。測試時(shí)將該電場(chǎng)探頭放置在受測物體上。

    XF-R 3-1磁場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz)

    XF-R 3-1型近場(chǎng)探頭: 用于高分辨率直接檢測組件上,譬如IC的引腳或外殼、布線(xiàn)、旁路電容器和電磁兼容性(EMC)元件等區域的射頻磁場(chǎng)。

    XF-R 400-1磁場(chǎng)探頭(30MHz-6Hz)

    XF-R 400-1磁場(chǎng)探頭 因較大的直徑(25mm)而擁有很高的靈敏度,允許在10cm以?xún)鹊木嚯x測量模塊和設備。

    XF-U 2.5-1磁場(chǎng)探頭(30MHz-6GHz)

    XF-U 2.5-1型磁場(chǎng)探頭是一個(gè)近場(chǎng)探頭,用于選擇性測量導線(xiàn)、SMD組件和IC引腳中的高頻電流。這個(gè)探頭有一個(gè)大約0.5mm寬的磁場(chǎng)敏感缺口,測量時(shí)將這個(gè)缺口放在布線(xiàn)、IC或者電容器的連接點(diǎn)上。

     

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